X射线衍射仪能精确测定物质的晶体结构、织构及应力,精确的进行物相的定性分析和定量分析,在冶金、石油、化工、科研、航空航天、材料生产等领域广泛使用。该设备可应用于粉末、块状或薄膜样品的相组成、应力状态和晶粒度的测定,为材料学基础和材料加工技术研发提供了技术保障。
仪器主要技术指标
1.X射线光源
(1)最大输出功率:3kW
(2)额定电压:60kV
(3)额定电流:60mA
(4)电流电压稳定度:优于±0.005% (外电压波动10%时)
2.X射线光管部分
(1)X射线光管:Cu靶,金属陶瓷X光管,功率2.4kW,焦斑大小:1×12 mm
(2)射线防护:射线防护装置联锁机构、样品测量时禁止打开射线防护装置。散剂量符合国际,防护罩外任何一点的计量小于1μSV/h
3.测角仪部分
(1)测角仪:θ/θ样品水平,采用光学编码器技术与电机双重定位
(2)扫描方式:连续、步进、Omg测量
(3)2θ转动范围:-3°~160°
(4)测角仪半径:≥185mm
(5)可读最小步长:0.0001°,角度重现性: 0.0001°
(6)最高定位速度:≥1000°/min
(7)2θ角偏差:全角度范围内测量NIST标准样品不少于4个衍射峰,2θ示值误差≤±0.02°
4.探测器部分:封闭正比探测器
(1)能谱分辨率:小于25% (Cu Kα谱线)
(2)最大线性计数率:大于5×105cps
(3)弯曲晶体石墨单色器:反射效率大于28%
5.仪器控制和数据处理系统
计算机:Intel i系列处理器、内存4G、硬盘128G固态、24寸LED显示

X射线衍射仪操作流程